[发明专利]相控阵天线近场测量中的同时多波束精确扫描取样方法

摘要

本发明属于一种相控阵天线近场测量中的同时多波束精确扫描取样方法。该方法首先由探头定位器按预定的方向匀速滑动，经过取样位置时向编码控制器发送一个电脉冲，编码控制器按照预定的精确工作周期、指令时序和工作次数，协调相控阵天线的波束控制系统和射频测量系统完成多次波束转换和射频取样测量，在一个取样位置实现同时多波束精确扫描取样的射频测量，并且使得每一个波束的取样数据在所有的取样位置均获得一个固定的位置偏移，使得各波束的近场测量取样间隔保持一致，便于进行近场到远场数学计算。

主权项

一种相控阵天线近场测量中的同时多波束精确扫描取样方法，其特征为：定位器控制探头滑动扫描经过每一个取样位置时保持相同的均匀的速度；编码控制器在接收到来自定位器在取样位置发出的电脉冲后，首先向相控阵波束控制器发出波束编码和转换指令，然后延迟一个固定的时间，使波束转换完成；紧接着向射频测量系统发送取样测量指令，然后延迟一个固定的时间，使射频取样测量完成；再进入下一个波束转换的周期，直至所有波束转换和射频取样测量完成，最后从射频测量系统中取回所有波束取样数据，完成在探头滑动的过程中同时完成多个波束扫描取样测量；波束编码、波束转换指令、取样测量指令和两个固定延时长度均基于编码控制器的时钟产生，获得精确的工作周期，使得各波束的取样间隔一致，取样数据便于直接进行FFT计算以获得精确的波束形状。