[发明专利]一种新型负性化学放大光刻胶及其成像方法有效

专利信息
申请号: 201310277171.4 申请日: 2013-07-03
公开(公告)号: CN103309160A 公开(公告)日: 2013-09-18
发明(设计)人: 孙嘉;陈昕;罗杰·森特;李冰;刁翠梅;李海波;韩现涛 申请(专利权)人: 北京科华微电子材料有限公司;北京科华丰园微电子科技有限公司
主分类号: G03F7/038 分类号: G03F7/038;G03F7/00
代理公司: 北京驰纳智财知识产权代理事务所(普通合伙) 11367 代理人: 谢亮;赵德兰
地址: 101312 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种新型负性化学放大光刻胶及其成像方法,该负性化学放大光刻胶含有苯酚类树脂、光致产酸剂、交联剂、碱性添加剂、敏化剂和光刻胶溶剂。其中苯酚类树脂是所述新型负性化学放大光刻胶的主体材料,光致产酸剂是在光照时能够产生一定强度的酸,交联剂能够与酚羟基或邻/对位羟甲基官能团发生缩和反应。在所述新型负性化学放大光刻胶成像方法中包括涂布、烘烤、曝光、烘烤和显影等步骤。本发明所述的化学放大负性光刻胶,可以有效提高光刻胶的分辨率及感光速度,同时与正性光刻胶所用的试剂相同,适用于高档集成电路、平板显示及半导体照明芯片制造等领域。
搜索关键词: 一种 新型 化学 放大 光刻 及其 成像 方法
【主权项】:
一种新型负性化学放大光刻胶,其包含苯酚类树脂、光致产酸剂、交联剂、碱性添加剂、敏化剂和光刻胶溶剂;所述交联剂能够与酚羟基或邻/对位羟甲基官能团发生缩和反应。
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