[发明专利]具有频率测试功能存储器测试设备及存储器测试方法无效
| 申请号： | 201310277466.1 | 申请日： | 2013-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN103345945A | 公开（公告）日： | 2013-10-09 |
| 发明（设计）人： | 柯遥 | 申请（专利权）人： | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人： | 吴世华;林彦之 |
| 地址： | 201210 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种具有频率测试功能的存储器测试设备，包括：信号采集模块，以预定频率对被测信号进行持续采集，以获取多个被测信号的取样信号；模数转换模块，将多个取样信号转换为多个数字信号；存储模块，按顺序存储多个数字信号；计数模块，从初始数字信号开始对所存储的数字信号进行计数，初始数字信号为所获取的第一个取样信号所转换的数字信号；以及频率计算模块，根据第n次数字信号变化时的计数值、第n+2次数字信号变化时对应的计数值以及预定频率，获取被测信号的周期和频率，n为大于等于1的正整数。本发明使得测试存储器芯片常规项目和频率测试能在同一台设备上一次连续测试完成，而无需增加额外的测试电路。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 频率 测试 功能 存储器 设备 方法 | ||
【主权项】：
一种具有频率测试功能的存储器测试设备，其特征在于，包括：信号采集模块，以预定频率对被测信号进行持续采集，以获取多个所述被测信号的取样信号；模数转换模块，将所述多个取样信号转换为多个数字信号，所述数字信号为第一数字信号或第二数字信号；存储模块，按顺序存储所述多个数字信号；计数模块，从初始数字信号开始对所存储的数字信号进行计数，所述初始数字信号为所获取的第一个取样信号所转换的数字信号；以及频率计算模块，根据第n次数字信号变化时变化的数字信号所对应的计数值、第n+2次数字信号变化时变化的数字信号所对应的计数值，以及所述预定频率，获取所述被测信号的周期，并根据所述被测信号的周期得到所述被测信号的频率；其中所述数字信号变化为从所述第一数字信号转换为所述第二数字信号或从所述第二数字信号转换为所述第一数字信号，n为大于等于1的正整数。
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