[发明专利]通过紫外线发光二极管模拟紫外线光谱特性的装置在审
| 申请号： | 201310278369.4 | 申请日： | 2013-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN103528940A | 公开（公告）日： | 2014-01-22 |
| 发明（设计）人： | 贝恩德·鲁道夫;姆克尔季奇·胡达韦尔季;彼得·马尔希 | 申请（专利权）人： | 阿特拉斯材料测试技术公司 |
| 主分类号： | G01N17/00 | 分类号： | G01N17/00 |
| 代理公司： | 上海翰鸿律师事务所 31246 | 代理人： | 李佳铭 |
| 地址： | 德国灵森*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 通过紫外线发光二极管模拟紫外线光谱特性的装置。本装置包含风化室（1），在风化室中设置有紫外线辐射装置（2；20；30），且在与其存在距离的试样层中可设置至少一个试样（3），其中紫外线辐射装置（2；20；30）包含多个紫外线发光二极管（2.1；21；31.n），其中二极管包含两个或多个级别的光照带不同的紫外灯（2.1；21；31.n），其中光照带的选择必须符合这一条件，即在试样层中可实现光谱分配，通过这一光谱分配对特定的紫外线光谱特性进行近似计算。 | ||
| 搜索关键词： | 通过 紫外线 发光二极管 模拟 光谱 特性 装置 | ||
【主权项】：
用于试样的人工风化或耐光性检验的装置，包含风化室（1），在风化室中设置有紫外线辐射装置（2；20；30），且在与其存在距离的试样层中可设置至少一个试样（3），其中紫外线辐射装置（2；20；30）包含多个紫外线发光二极管（UV‑LEDs）（2.1；21；31.n），其中二极管包含两个或多个级别的、光照带不同的紫外线发光二极管（2.1；21；31.n），其中光照带的选择必须符合这一条件，即可在试样层中可实现光谱分配，通过这一光谱分配对特定的紫外线光谱特性进行近似计算。
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