[发明专利]基于微结构的移频超分辨显微成像方法和装置有效
| 申请号： | 201310278646.1 | 申请日： | 2013-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN103353675A | 公开（公告）日： | 2013-10-16 |
| 发明（设计）人： | 刘旭;郝翔;匡翠方;李海峰 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G02B27/58 | 分类号： | G02B27/58;G02B21/06 |
| 代理公司： | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 | 代理人： | 胡红娟 |
| 地址： | 310027 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于微结构的移频超分辨显微成像方法，将入射照明光垂直照射在微结构上产生表面波，使用表面波对样品表面进行照明，并通过显微镜从远场接收强度图像；对所述的强度图像进行傅里叶变换得到相应频谱，使用移频算法对所得到的频谱进行还原，并得到相应的频谱还原图像；改变表面波导入样品的方向，直至覆盖0～360°，每次均上述步骤，得到不同方向下的频谱还原图像；对不同方向下的频谱还原图像进行叠加，得到完整的高频频谱图像；对所述的完整高频频谱图像进行傅里叶反变换，得到观察样品的超分辨显微图像。本发明还公开了一种基于微结构的移频超分辨显微成像装置。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 微结构 移频超 分辨 显微 成像 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种基于微结构的移频超分辨显微成像方法，其特征在于，包括以下几个步骤：1）将入射照明光垂直照射在微结构上产生表面波；2）使用表面波对样品表面进行照明，并通过显微镜从远场接收强度图像；3）对所述的强度图像进行傅里叶变换得到相应频谱，使用移频算法对所得到的频谱进行还原，并得到相应的频谱还原图像；4）改变表面波导入样品的方向，直至覆盖0～360°，每次均重复步骤2）和步骤3），得到不同方向下的频谱还原图像；5）对不同方向下的频谱还原图像进行叠加，得到完整的高频频谱图像；6）对所述的完整高频频谱图像进行傅里叶反变换，得到观察样品的超分辨显微图像。
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