[发明专利]半导体装置无效
申请号: | 201310279225.0 | 申请日: | 2010-05-17 |
公开(公告)号: | CN103383956A | 公开(公告)日: | 2013-11-06 |
发明(设计)人: | 小山雅纪;福田豊 | 申请(专利权)人: | 株式会社电装 |
主分类号: | H01L29/739 | 分类号: | H01L29/739 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 陈松涛;王英 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种半导体装置,包括:具有第一半导体层(11)和形成于第一表面(11a)上的第二半导体层(12)的半导体衬底(10);具有第一电极(20)和第二电极(21)的二极管(30);控制焊盘(42);与所述控制焊盘(42)电耦合的控制电极(41);以及绝缘构件(44,46)。在所述第一半导体层(11)的第二表面(11b)上形成所述第一电极(20)。在第一表面(11a)上形成第二电极(21)。电流在第一电极(20)和第二电极(21)之间流动。控制焊盘(42)布置于第一表面(11a)上,使得所述焊盘(42)输入控制信号,用于控制注入所述第一半导体层中的载流子的量。所述绝缘构件(44,46)在所述控制电极(41)和所述第二电极(21)之间以及在所述控制电极(41)和所述半导体衬底(10)之间绝缘。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【主权项】:
一种半导体装置,包括:具有第一导电类型的集电极层(201);具有第二导电类型且布置于所述集电极层(201)上的漂移层(202);具有所述第一导电类型且形成于单元区域中的所述漂移层(202)上的基极区(203);第一沟槽(204),所述第一沟槽(204)沿着作为纵向的一个方向延伸并被形成为穿透所述基极区(203)并且到达所述漂移区(202),从而将所述基极区(203)分成多个部分;发射极区(205),所述发射极区(205)具有所述第二导电类型且形成于所述基极区(203)的所分成的多个部分的至少一部分以接触所述基极区(203)中的所述第一沟槽(204)的侧壁;形成于所述第一沟槽(204)的内表面上的栅极绝缘膜(206);形成于所述第一沟槽(204)中的栅极绝缘膜(206)上的栅电极(207);与所述发射极区(205)电耦合的发射极电极(209)、以及形成于所述集电极层(201)的后侧上的集电极电极(210);形成于所述集电极层(201)与所述漂移层(202)相反的后侧上的第二沟槽(211);形成于所述第二沟槽(211)的内表面上的栅极绝缘膜(212);以及形成于所述第二沟槽(211)中的栅极绝缘膜(212)上的控制栅电极(213),其中所述集电极层(201)、所述漂移层(202)、所述基极区(203)、所述沟槽(204)、所述发射极区(205)、所述栅极绝缘膜(206)、所述栅电极(207)和所述集电极电极(210)提供了绝缘栅型半导体装置。
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