[发明专利]光电经纬仪伺服系统性能测试装置及测试方法有效

专利信息
申请号: 201310280381.9 申请日: 2013-07-04
公开(公告)号: CN103344258A 公开(公告)日: 2013-10-09
发明(设计)人: 武治国;王明佳 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 张伟
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种光电经纬仪伺服系统性能测试装置,包括:模拟目标生成器和伺服系统控制表现器;所述模拟目标生成器用于产生目标运动序列图片及确定每张图片对应的目标位置;所述伺服系统控制表现器用于:使光电经纬仪的伺服系统根据模拟目标脱靶量控制光电经纬仪转动;记录光电经纬仪旋转角度位置;显示每幅目标图像在光电经纬仪转动情况下的模拟运动目标图像。本发明的光电经纬仪伺服系统性能测试装置及测试方法,可以精确评估伺服系统控制光电经纬仪的跟踪性能,测试系统通过图像中目标的运动状态直观的展示了伺服系统的目标跟踪稳定性,可以模拟出伺服系统真实的目标跟踪效果图像。
搜索关键词: 光电 经纬仪 伺服系统 性能 测试 装置 方法
【主权项】:
一种光电经纬仪伺服系统性能测试装置,其特征在于,包括:模拟目标生成器和伺服系统控制表现器;所述模拟目标生成器用于产生目标运动序列图片及确定每张图片对应的目标位置;所述伺服系统控制表现器用于:使光电经纬仪的伺服系统根据模拟目标脱靶量控制光电经纬仪转动;记录光电经纬仪旋转角度位置;显示每幅目标图像在光电经纬仪转动情况下的模拟运动目标图像。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310280381.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top