[发明专利]一种响应度可调的硅光电探测器及其制作方法无效
申请号: | 201310280622.X | 申请日: | 2013-07-05 |
公开(公告)号: | CN103367519A | 公开(公告)日: | 2013-10-23 |
发明(设计)人: | 黄永光;朱洪亮 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L31/101 | 分类号: | H01L31/101;H01L31/0288;H01L31/0352;H01L31/0224;H01L31/18 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种响应度可调的硅光电探测器及其制作方法,该硅光电探测器包括:p型硅基衬底层;n型碲离子注入层,通过于该p型硅基衬底层表面进行碲离子注入而形成;碲氧元素共掺杂的硅纳米岛层,通过于该n型碲离子注入层表面进行氧离子注入而形成;增透膜层,形成于该碲氧元素共掺杂的硅纳米岛层表面;正面接触电极和保护环接触电极,形成于该增透膜层表面;以及背面接触电极,形成于该p型硅基衬底层背面。本发明结合了硅中深能级和纳米岛结构能带调控功能,使硅光电探测器的响应度具有随反向偏压增大而增强并且响应波段向红外拓展的优异特性。 | ||
搜索关键词: | 一种 响应 可调 光电 探测器 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种响应度可调的硅光电探测器,其特征在于,该硅光电探测器包括:p型硅基衬底层;n型碲离子注入层,通过于该p型硅基衬底层表面进行碲离子注入而形成;碲氧元素共掺杂的硅纳米岛层,通过于该n型碲离子注入层表面进行氧离子注入而形成;增透膜层,形成于该碲氧元素共掺杂的硅纳米岛层表面;正面接触电极和保护环接触电极,形成于该增透膜层表面;以及背面接触电极,形成于该p型硅基衬底层背面。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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