[发明专利]用于多能组织量化的设备和方法在审
申请号: | 201310281264.4 | 申请日: | 2013-07-05 |
公开(公告)号: | CN103519838A | 公开(公告)日: | 2014-01-22 |
发明(设计)人: | A.克里斯顿;P.A.J.兰布;P.R.多斯桑托斯蒙唐卡;工藤正幸;佐佐木公祐;S.森古普塔;R.博蒂卡;L.鲁斯科;B.达斯;S.D.沃伦韦伯;F.科瓦奇 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 柯广华;王忠忠 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 用于多能组织量化的设备包括x射线成像系统,该x射线成像系统包括:x射线源,其配置成朝要成像的对象发射x射线束;检测器,其配置成接收由该对象衰减的x射线;以及数据采集系统(DAS),其操作地耦合于该检测器。对操作地连接到该x射线源和DAS的计算机编程以促使该x射线源以第一kVp和第二kVp中的每个朝该检测器发射x射线、从以第一和第二kVp发射通过感兴趣区域(ROI)的x射线采集x射线数据,并且基于采集的x射线数据执行第一多物质分解。还对该计算机编程以基于该第一多物质分解将ROI中第一物质的体积分数量化并且向用户显示该第一物质的体积分数。 | ||
搜索关键词: | 用于 多能 组织 量化 设备 方法 | ||
【主权项】:
一种x射线成像系统,包括:x射线源,其配置成朝要被成像的对象发射x射线束;检测器,其配置成接收由所述对象衰减的所述x射线;数据采集系统(DAS),其操作地耦合于所述检测器;以及计算机,其操作地连接到所述x射线源和所述DAS,对所述计算机编程以:促使所述x射线源以第一kVp和第二kVp中的每个朝所述检测器发射x射线;从以所述第一和第二kVp发射通过感兴趣区域(ROI)的x射线采集x射线数据;基于采集的x射线数据执行第一多物质分解;基于所述第一多物质分解将所述ROI中的第一物质的体积分数量化;以及向用户显示所述第一物质的体积分数。
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