[发明专利]一种电子元器件的自动测试装置在审

专利信息
申请号: 201310282351.1 申请日: 2013-07-05
公开(公告)号: CN104280398A 公开(公告)日: 2015-01-14
发明(设计)人: 蔡晓恺 申请(专利权)人: 上海维锐智能科技有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01R31/00;G01M11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201206 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明实施例提供了一种电子元器件的自动测试方法和装置,所述方法包括:将待测电子元器件插到电子切换工装板上的通用测试插座阵列上,机械臂运动平台带动其上的图像获取模块进行精密的位置移动;当图像获取模块到达某一个待测试元器件上方时,电子切换工装板上的控制电路启动工作,控制电子切换矩阵将该待测器件与所述电子切换工装板上的控制电路及电性能测量电路连通,同时控制被测器件进入运行状态;图像获取模块对所述位置的待测器件进行拍照,获取被测器件的外观图像及被测发光器件的发光图像,所获取的图像由主控模块中的图像处理模块进行分析处理,识别缺陷品;电性能测量电路对所述位置的待测器件进行电性能测试,测试结果由主控模块中的测量结果分析模块进行分析处理,识别缺陷品。
搜索关键词: 一种 电子元器件 自动 测试 装置
【主权项】:
一种电子元器件的自动测试装置,其特征在于,包括:机械臂运动平台、图像获取模块、电子切换工装板、主控模块,其中所述图像获取模块安装在所述机械臂运动平台上;所述机械臂运动平台和所述主控模块连接;所述电子切换工装板和所述主控模块连接;所述图像获取模块和所述主控模块连接。
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