[发明专利]一种全偏振高光谱干涉成像装置及方法

摘要

本发明公开了一种全偏振高光谱干涉成像装置及方法，利用电控双折射器件进行偏振相位调制，并通过偏振分光器获得的双光路进行像素配准图像的采集，并进行高光谱和全偏振信息的解算。目标地物的散射光由前置光学系统收集并由偏振相位调制器进行偏振相位调制后，在偏振分光棱镜对光进行分路，分为O光和E光两路，在保证图像配准的条件下进行干涉成像与同步测量，并将得到的一系列图像信息送入系统处理；本发明不仅保留了高的光通量和高光谱获取的技术特征，还实现的全偏振遥感测量；获得的全偏振高光谱遥感成像信息能够进一步的提高目标地物的空间分辨能力，增强对遥感目标的分析能力，增加遥感测量结果的信息量。

主权项

一种全偏振高光谱干涉成像装置，其特征在于，它包括：前置光学成像系统（1）、偏振可控相位调制器（2）、偏振分光棱镜（3）、O光偏振型横向剪切干涉模块（4）、O光成像光学系统（5）、O光成像探测器（6）、信号处理、控制与存储系统（7）、E光偏振型横向剪切干涉模块（8）、E光成像光学系统（9）和E光成像探测器（10）等；其中，目标的散射光由前置光学成像系统（1）收集，并通过受信号处理、控制与存储系统（7）控制的偏振可控相位调制器（2）进行偏振相位调制后，在偏振分光棱镜（3）中分为两束光强相等的线偏振光，一束为O光，另一束为E光，其中，O光偏振型横向剪切干涉模块（4）将透射的O光横向剪切成两束光强相等的偏振光并进行检偏，检偏后的两束光由O光成像光学系统（5）汇聚后在O光成像探测器（6）上干涉成像；E光偏振型横向剪切干涉模块（8）将E光横向剪切成两束光强相等的偏振光并进行检偏，检偏后的两束光由E光成像光学系统（9）汇聚后在E光成像探测器（10）上干涉成像；O光成像探测器（6）和E光成像探测器（10）与信号处理、控制与存储系统（7）相连；O光成像探测器（6）和E光成像探测器（10）采集的图像信息同步送入信号处理、控制与存储系统（7）处理。