[发明专利]一种超导薄膜磁热特性测试用可视化低温杜瓦系统有效
| 申请号： | 201310284112.X | 申请日： | 2013-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN103364743A | 公开（公告）日： | 2013-10-23 |
| 发明（设计）人： | 张兴义;刘伟;周军;周又和 | 申请（专利权）人： | 兰州大学 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12;G01N25/00 |
| 代理公司： | 北京中恒高博知识产权代理有限公司 11249 | 代理人： | 刘洪京 |
| 地址： | 730000 甘*** | 国省代码： | 甘肃;62 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种超导薄膜磁热特性测试用可视化低温杜瓦系统，包括密封式配合安装的低温密封容器和GM制冷机，配合设置在所述低温密封容器内部的真空室、位于真空室上方的GM制冷机连接头、用于放置的待测超导样品薄膜的样品放置架、以及连接在GM制冷机连接头与样品放置架之间的传热组件，分别配合安装在所述低温密封容器的上端和下端的外部光学测试系统和激光脉冲器，以及包覆在所述低温密封容器外围的磁体。本发明所述超导薄膜磁热特性测试用可视化低温杜瓦系统，可以克服现有技术中使用不方便和应用前景差等缺陷，以实现使用方便和应用前景好的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 超导 薄膜 特性 测试 可视化 低温 系统 | ||
【主权项】：
一种超导薄膜磁热特性测试用可视化低温杜瓦系统，其特征在于，包括密封式配合安装的低温密封容器和GM制冷机，配合设置在所述低温密封容器内部的真空室、位于真空室上方的GM制冷机连接头、用于放置的待测超导样品薄膜的样品放置架、以及连接在GM制冷机连接头与样品放置架之间的传热组件，分别配合安装在所述低温密封容器的上端和下端的外部光学测试系统和激光脉冲器，以及包覆在所述低温密封容器外围的磁体。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于兰州大学，未经兰州大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310284112.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
