[发明专利]一种基于扫描热学显微镜原位表征纳米热电塞贝克系数的装置有效
| 申请号： | 201310284525.8 | 申请日： | 2013-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN103344790A | 公开（公告）日： | 2013-10-09 |
| 发明（设计）人： | 曾华荣;陈立东;徐琨淇;赵坤宇;李国荣 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
| 主分类号： | G01Q60/58 | 分类号： | G01Q60/58 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 郭蔚 |
| 地址： | 200050 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： |
本申请公开了一种基于扫描热学显微镜原位表征纳米热电塞贝克系数的装置，用于检测一被测纳米热电材料的微区塞贝克系数，所述装置进一步包括：一谐波信号的扫描热学显微镜原位激励平台，和一纳米热电塞贝克系数原位检测平台，其中，所述微区热电塞贝克系数为： |
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| 搜索关键词： | 一种 基于 扫描 热学 显微镜 原位 表征 纳米 热电 贝克 系数 装置 | ||
【主权项】：
一种基于扫描热学显微镜原位表征纳米热电塞贝克系数的装置，用于检测一被测纳米热电材料的微区塞贝克系数，其特征在于，所述装置进一步包括：一谐波信号的扫描热学显微镜原位激励平台，用于提供发展纳米热电塞贝克系数原位表征装置的扫描热学显微镜平台，并原位同时激发微区热电塞贝克系数原位定量表征所需的一倍频谐波信号、纳米热电材料微区二倍频谐波信号和纳米热电材料微区三倍频谐波信号；一纳米热电塞贝克系数原位检测平台，用于实现所述一倍频谐波信号、纳米热电材料微区二倍频谐波信号和纳米热电材料微区三倍频谐波信号的原位实时检测和处理，并显示微区热电塞贝克系数热电参量的原位表征结果；其中，所述微区热电塞贝克系数为： S = k · V 2 ω V 3 ω / V 1 ω 其中，S为微区塞贝克系数，V1ω，V2ω，V3ω分别是一倍频谐波信号，纳米热电材料微区二倍频谐波信号和纳米热电材料微区三倍频谐波信号，k是一系数。
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