[发明专利]一种磁电材料磁学性能同步测试装置有效
| 申请号： | 201310287730.X | 申请日： | 2013-07-10 |
| 公开（公告）号： | CN103344926A | 公开（公告）日： | 2013-10-09 |
| 发明（设计）人： | 施展;邓数文;陈来柱;佟永帅;薛昊;杨水源;卢勇;王翠萍;刘兴军;张锦彬;黄艺雄 | 申请（专利权）人： | 厦门大学 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12;G01R33/14;G01R33/18 |
| 代理公司： | 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 | 代理人： | 马应森 |
| 地址： | 361005 *** | 国省代码： | 福建;35 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种磁电材料磁学性能同步测试装置，涉及磁电材料的测试。设有电磁铁、直流电源、信号发生器、屏蔽罩、亥姆赫兹线圈、锁相放大器、霍尔探头、探测线圈、磁通计、高斯计、应变片、应变仪、数据采集装置、计算机；亥姆赫兹线圈放置在电磁铁的磁隙中，信号发生器输出端与锁相放大器输入端连接，样品的磁电信号输出端接锁相放大器输入接口，锁相放大器输出端接数据采集装置输入端，高斯计输出端接数据采集装置输入端，磁通计输出端接数据采集装置输入端，应变仪与数据采集装置输入端连接，霍尔探头放置于样品附近，霍尔探头接入高斯计，探测线圈缠绕在样品周围，探测线圈输出端接磁通计输入端，应变片贴在样品的表面，应变片与应变仪连接。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 磁电 材料 磁学 性能 同步 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种磁电材料磁学性能同步测试装置，其特征在于设有电磁铁、直流电源、信号发生器、屏蔽罩、亥姆赫兹线圈、锁相放大器、霍尔探头、探测线圈、磁通计、高斯计、应变片、应变仪、数据采集装置、计算机；电磁铁由直流电源驱动，亥姆赫兹线圈放置在电磁铁的磁隙中，样品放置在亥姆赫兹线圈中，信号发生器的同步输出端与锁相放大器的参考信号输入端连接，样品的磁电信号输出端接锁相放大器的输入接口，锁相放大器的输出端接数据采集装置的输入端，高斯计的磁场信号输出端接数据采集装置的输入端，磁通计的输出端接数据采集装置的输入端，应变仪与数据采集装置的输入端连接，霍尔探头放置于样品附近，霍尔探头接入高斯计，探测线圈缠绕在样品周围，探测线圈的输出端接磁通计的输入端，应变片贴在样品的表面，应变片与应变仪连接，屏蔽罩罩在霍尔探头和探测线圈上，计算机与数据采集装置相连。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于厦门大学，未经厦门大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310287730.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
