[发明专利]侦测装置及侦测方法

摘要

本发明涉及一种侦测装置，包括一线性偏振光源、一旋转单元、一光侦测器、一处理单元以及一分光单元。线性偏振光源提供一线性偏振光。旋转单元使线性偏振光的偏振方向旋转，且光异向性样本反射线性偏振光以产生一反射光。光侦测器侦测反射光的强度。处理单元根据反射光的强度变化计算出光异向性样本的分子排列方向。分光单元配置于线性偏振光的传导路径上，并使部分线性偏振光穿透，而另一部分的线性偏振光反射。此外，一种侦测方法亦被提供。

主权项

一种侦测装置，适于侦测一光异向性样本的分子排列方向，其特征在于该侦测装置包括：一线性偏振光源，提供一线性偏振光；一旋转单元，用以使照射于该光异向性样本的该线性偏振光的偏振方向在该光异向性样本的被照射平面上旋转，且该光异向性样本反射该线性偏振光以产生一反射光；一光侦测器，配置于该反射光的传递路径上，并侦测该反射光的强度； 一处理单元，根据该光侦测器所侦测到的该反射光的强度变化计算出该光异向性样本的分子排列方向；以及一分光单元，配置于该线性偏振光的传导路径上，该分光单元使部分该线性偏振光穿透，并使另一部分的该线性偏振光反射。