[发明专利]一种键合线弧高测试夹具及其测试方法有效
| 申请号： | 201310290637.4 | 申请日： | 2013-07-11 |
| 公开（公告）号： | CN103335599A | 公开（公告）日： | 2013-10-02 |
| 发明（设计）人： | 任春岭;多新中;陈强;沈美根;闫锋;张如春 | 申请（专利权）人： | 江苏博普电子科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人： | 董建林 |
| 地址： | 214131 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种键合线弧高测试夹具，包括夹具主体，所述夹具主体的上表面设置有倒L型凹槽，所述倒L型凹槽的长斜面与短斜面之间相互垂直。本发明还公开了利用该夹具的测试方法。通过将待测试的管壳放置在一定倾斜角度的夹具上，可借助显微镜测量键合线投影的长度，根据相应的公式计算出弧高，该方法测量的键合线弧高精度在±20μm，满足电路设计对封装键合线的测量要求，很好地解决微波器件在封装键合过程中的弧高测量问题，且结构简单、成本低，便于使用和维护。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 键合线弧高 测试 夹具 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种键合线弧高测试夹具，包括夹具主体（1），其特征在于：所述夹具主体（1）的上表面设置有倒L型凹槽，所述倒L型凹槽的长斜面（11）与短斜面（12）之间相互垂直。
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