[发明专利]小型柱状体微波暗室反射率电平实验室标定与测量装置

摘要

一种小型柱状体微波暗室反射率电平实验室标定与测量装置，包括：反射率电平测量单元及测量系统定标单元；反射率电平测量单元中微波信号源产生信号，经综测用柱状体空间衰减后，由频谱仪、分析仪处理，计算机数据采集和分析后获得空间驻波曲线并计算出反射率电平；测量系统定标单元依据双线法原理，微波信号源通过功分器将信号一分为二，一路直接进合路器模拟入射信号强度，一路通过移相器、衰减器后进入合路器模拟反射信号路径，通过连续改变移相器的相位从而模拟出入射波与反射波的入射路径，将入射信号和反射信号经矢量叠加后即产生驻波曲线并计算出反射率电平，其值应与所接入的衰减器的衰减量相符，可以实现对反射率电平测量装置的标定。

主权项

1.一种小型柱状体微波暗室反射率电平实验室标定与测量装置，其特征在于，包括：反射率电平测量单元及测量系统定标单元；所述反射率电平测量单元包括：微波信号源、综测用柱状体、发射天线、接收天线、频谱仪、分析仪、支架测试支架、数据采集分析软件及主控计算机；微波信号源作为信号发射设备，产生一个微波直射信号给发射天线，该发射信号经综测用柱状体空间衰减后，由接收天线接收后送给频谱仪和分析仪，最后由主控计算机进行数据采集和分析后获得空间驻波曲线并计算出反射率电平；所述测量系统定标单元包括：微波信号源、功分器、衰减器、移相器、合路器、频谱仪、发射天线、接收天线、支架测试支架、数据采集分析软件以及主控计算机；测量系统定标单元主要依据双线法原理，微波信号源通过功分器将信号一分为二，一路直接进合路器模拟入射信号强度，一路通过移相器、衰减器后进入合路器模拟反射信号路径，通过连续改变移相器的相位从而模拟出入射波与反射波的入射路径，将入射信号和反射信号经矢量叠加后即产生一驻波曲线并计算出反射率电平，其值应与所接入的衰减器的衰减量相符，从而实现对反射率电平测量装置的标定；其中，在测量之前应先进行反射率电平归一化校准,以消除测量系统的初始影响；校准方法是:归一化校准时不接衰减器,测量时接入衰减器；两者相减,其测量结果应与加接的衰减器的衰减值相符。