[发明专利]基于FLEX的高速运算放大器测试电路有效
申请号: | 201310293454.8 | 申请日: | 2013-07-12 |
公开(公告)号: | CN104280679B | 公开(公告)日: | 2018-08-24 |
发明(设计)人: | 许伟达;徐导进;陶帅 | 申请(专利权)人: | 上海精密计量测试研究所 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 上海航天局专利中心 31107 | 代理人: | 金家山 |
地址: | 200031 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明的基于FLEX的高速运算放大器测试电路,在高速运算放大器的反向输入端与测试系统MicroFLEX的运放环反向输入端之间并联继电器支路;高速运算放大器的同向输入端分别通过继电器支路与测试系统的运放环同向输入端、视频信号同向输出端、中频信号同向输出端连接,运放环反向输入端和同向输入端的屏蔽层通过继电器可选择与地相连;高速运算放大器的同向输入端串联继电器支路后接地;高速运算放大器的反向输入端与高速运算放大器的输出端之间并联多个继电器支路;高速运算放大器的输出端与地之间并联多个负载支路;高速运算放大器的输出端分别通过继电器支路与测试系统的中频信号同向测量端、视频信号同向测量端、运放环输出端连接。 | ||
搜索关键词: | 基于 flex 高速 运算放大器 测试 电路 | ||
【主权项】:
1.基于FLEX的高速运算放大器测试电路,其特征在于,采用测试系统Micro FLEX测试高速运算放大器的电性能;在待测高速运算放大器的反向输入端与测试系统Micro FLEX的一运放环反向输入端之间并联至少两个继电器支路,该运放环反向输入端的屏蔽层通过继电器可选择与地相连;待测高速运算放大器的同向输入端分别通过第一继电器支路与测试系统Micro FLEX相应的运放环同向输入端、视频信号同向输出端、中频信号同向输出端连接,该运放环同向输入端的屏蔽层通过继电器可选择与地相连;待测高速运算放大器的同向输入端还串联一第二继电器支路后接地;待测高速运算放大器的反向输入端与待测高速运算放大器的输出端之间并联多个继电器支路;待测高速运算放大器的输出端与地之间并联多个负载支路,所述负载支路为继电器与电阻的串联电路;待测高速运算放大器的输出端分别通过第一继电器支路与测试系统Micro FLEX的中频信号同向测量端、视频信号同向测量端、运放环输出端连接;所述第二继电器支路为继电器或者继电器与电阻的串联电路。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海精密计量测试研究所,未经上海精密计量测试研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310293454.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。