[发明专利]用于制造混合集成的构件的方法有效

专利信息
申请号: 201310294295.3 申请日: 2013-04-22
公开(公告)号: CN103420325B 公开(公告)日: 2016-10-19
发明(设计)人: J·弗莱;F·菲舍尔 申请(专利权)人: 罗伯特·博世有限公司
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 侯鸣慧
地址: 德国斯*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 利用本发明提出了一种用于混合集成的构件的制造方法,所述构件具有至少一个MEMS结构元件、一用于所述MEMS结构元件的微机械结构的罩以及至少一个ASIC基底。根据本发明,为此,所述MEMS结构元件(100)的微机械结构和在一个层构型中的所述罩(30)由一共同的半导体基底(10)出发进行制造,其方式是,将至少一个罩层(30)施加到所述半导体基底(10)的第一表面上,并且其方式是,将所述半导体基底(10)从其另外的第二表面(15)出发进行处理且结构化,以便产生并露出所述微机械的MEMS结构。然后,所述半导体基底(10)以MEMS结构化的第二表面(15)装配在所述ASIC基底(60)上。
搜索关键词: 用于 制造 混合 集成 构件 方法
【主权项】:
用于制造混合集成的构件(101;102)的方法,所述构件至少包括:‑一MEMS结构元件(100);‑一用于所述MEMS结构元件的微机械结构的罩;以及‑一ASIC基底(60);其中,所述MEMS结构元件(100)的所述微机械结构和在一个层构型中的所述罩(30)由一共同的半导体基底(10)出发被制造,·其方式是,将至少一个罩层施加到所述半导体基底(10)的第一表面上,以及·其方式是,将所述半导体基底(10)从其另外的第二表面(15)出发进行处理并且结构化,以便制造并露出微机械的MEMS结构;所述半导体基底(10)以MEMS结构化的所述第二表面(15)被装配在所述ASIC基底(60)上,其特征在于,至少一个牺牲层(20)被施加到所述半导体基底(10)的所述第一表面上并且被结构化,使得所述至少一个牺牲层形成了用于MEMS结构与罩(30)之间的空腔(21)的占位件;所述至少一个罩层在结构化的所述至少一个牺牲层(20)上方被施加到所述半导体基底(10)的所述第一表面上。
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