[发明专利]弱光栅检测装置及其检测方法有效
| 申请号： | 201310295211.8 | 申请日： | 2013-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN103471812A | 公开（公告）日： | 2013-12-25 |
| 发明（设计）人： | 文泓桥;罗志会;郭会勇;姜德生 | 申请（专利权）人： | 武汉理工大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人： | 唐万荣 |
| 地址： | 430070 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种弱光栅检测装置及其检测方法，其中检测装置包括小宽带光源、掺铒光纤放大器、调制模块、环形器、取样模块和光谱分析仪；小宽带光源提供2～6nm的宽谱连续光功率信号；小宽带光源连接调制模块，调制模块输出的光信号经过掺铒光纤放大器放大后，通过环形器的一个端口耦合进待检测对象，所述待检测对象为单个或者多个低反射率的光纤光栅；环形器的另一个端口连接取样模块；取样模块连接光谱分析仪。本发明通过分离并放大单个光栅的反射信号，对比计算单个光栅的真实反射率，同时准确定位单个光栅的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 弱光 检测 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种弱光栅阵列检测装置，其特征在于，包括小宽带光源（1）、调制模块（2）、放大器（3）、环形器（4）、取样模块（5）和光谱分析仪（6）；小宽带光源（1）提供2~6nm的宽谱连续光功率信号；小宽带光源（1）连接调制模块（2），调制模块（2）输出的光信号经过放大器（3）放大后，通过环形器（4）的一个端口耦合进入待检测对象，所述待检测对象为单个光纤光栅或者包含多个低反射率光纤光栅的弱光栅阵列；环形器（4）的另一个端口连接取样模块(5)；取样模块（5）连接光谱分析仪（6）。
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