[发明专利]基于远场的薄壳式天线罩壁厚修磨方法

摘要

本发明公开了一种基于远场的薄壳式天线罩壁厚修磨方法，主要解决现有技术不易实现及修磨精度差的问题。其技术方案是：(1)计算天线远场，绘制远场方向图并提取电性能指标；(2)测量带罩天线的远场，绘制远场方向图并提取电性能指标；(3)对天线罩划分网格，反求罩体各处的透射系数，及罩体各处的介电常数；(4)确定壁厚修磨量并进行修磨；(5)测量修磨罩壁后带罩天线的远场，绘制远场方向图并提取电性能指标；(6)对比无罩天线、带罩天线修磨罩壁前后的远场方向图和电性能指标，如满足预设要求，则终止修磨，否则，细化天线罩网格，并重复上述过程，直至结果满足要求。本发明能有效改善带罩天线的电性能，可用于指导天线罩的精加工。

主权项

一种基于远场的薄壳式天线罩壁厚修磨方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)根据已知的天线口径场，计算天线的远场，绘制远场方向图T1，并从远场方向图中提取电性能指标，即主波束位置G1、左一副瓣L1和右一副瓣R1；(2)对上述天线加上天线罩，测量带罩天线的远场，绘制带罩天线的远场方向图T2，并从该远场方向图中提取主波束位置G2、左一副瓣L2、和右一副瓣R2这些电性能指标；(3)对天线罩进行网格划分，根据带罩天线的远场计算公式以及所测远场，反求出天线罩罩体各处的透射系数；(4)根据罩体各处的透射系数以及整个天线罩的外形和壁厚，反求出天线罩罩体各处的介电常数；(5)根据天线罩罩体的介电常数分布，按照电厚度一致的原则，初步确定出天线罩壁厚的修磨量；(6)按照确定的修磨量在专门的数控机床上修磨天线罩的壁厚；(7)测量修磨罩壁后的带罩天线远场，绘制远场方向图T3，并从该远场方向图中提取主波束位置G3、左一副瓣L3和右一副瓣R3这些电性能指标；(8)根据天线设计的电性能要求，判断加罩且对天线罩进行修磨后系统的电性能指标是否在允许的范围内，如果满足，则终止修磨；否则，对天线罩的网格划分进行细化，重复步骤(3)到步骤(7)，直至结果满足要求。