[发明专利]一种基于指端表面粗糙度的测量方法无效

专利信息
申请号: 201310296898.7 申请日: 2013-07-16
公开(公告)号: CN104296697A 公开(公告)日: 2015-01-21
发明(设计)人: 陈真诚;朱健铭;陈刚;殷世民;梁永波;马进姿 申请(专利权)人: 桂林电子科技大学
主分类号: G01B11/30 分类号: G01B11/30
代理公司: 桂林市持衡专利商标事务所有限公司 45107 代理人: 廖世传
地址: 541004 广*** 国省代码: 广西;45
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摘要: 发明公开了一种基于指端表面粗糙度的测量方法研究,本发明采用的是光纤探针阵列顺序扫描的非接触式测量方法对指端表面进行扫描,是一种新型的粗糙度测量技术,本发明通过光纤探针阵列的顺序垂直扫描,可得到指端表面的微观凹凸曲线,使用相应不同算法,能准确实时的捕获特征点位置的凹凸变化,并计算得到其粗糙度,本发用光学扫描的方法代替触针在被测物体表面移动,具有准确,稳定,简单易行,操作灵活等优点。
搜索关键词: 一种 基于 指端 表面 粗糙 测量方法
【主权项】:
一种基于指端表面粗糙度的测量方法,其特征在于:该基于指端表面粗糙度的测量方法包括以下步骤:a.调制特定波长的激光发射器,保证光纤探针阵列按照一定的扫描方向发出最佳波长的光束;b.根据表面轮廓对耦合效率的调制原理,可得到探针与指端的距离z与耦合效率的函数关系;c.由于探针阵列沿特定方向顺序扫描时,接收到的光功率不是连续的,而是一串幅度不同、间隔不等的随机脉冲序列,因而可以得到脉冲的包络,即被测表面的轮廓;d.确定表面粗糙度的测量基准,利用相关算法计算得到评价表面粗糙度的主要参数。
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