[发明专利]ECR-PEMOCVD在自支撑金刚石厚膜上低温沉积InN薄膜的制备方法有效

专利信息
申请号: 201310298983.7 申请日: 2013-07-17
公开(公告)号: CN103334089A 公开(公告)日: 2013-10-02
发明(设计)人: 张东;张铁岩;鞠振河;王晓文;曹福毅;张晓慧;张宏丽;孙勇;李昱材;杜士鹏;赵琰;王宝石;衣云龙;金月新;张相明;王健;刘莉莹;王刚;郭瑞;王帅杰 申请(专利权)人: 沈阳工程学院
主分类号: C23C16/34 分类号: C23C16/34;C23C16/44
代理公司: 沈阳亚泰专利商标代理有限公司 21107 代理人: 史旭泰
地址: 110136 辽*** 国省代码: 辽宁;21
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明属于新型光电材料沉积制备技术领域,提供一种可制备电学性能良好、散热性能良好的InN光电薄膜的ECR-PEMOCVD在自支撑金刚石厚膜上低温沉积InN薄膜的制备方法。本发明包括以下步骤:1)将自支撑金刚石厚膜基片依次用丙酮、乙醇、去离子水超声波清洗后,用氮气吹干送入反应室;2)采用ECR-PEMOCVD系统,将反应室抽真空,基片加热至20~600℃,再向反应室内通入氢气携带的三甲基铟、氮气,三甲基铟与氮气流量比为(1~2):(100~200),控制气体总压强为0.8~2.0Pa,电子回旋共振反应30min~3h,得到在自支撑金刚石厚膜基片的InN光电薄膜。
搜索关键词: ecr pemocvd 支撑 金刚石 厚膜上 低温 沉积 inn 薄膜 制备 方法
【主权项】:
ECR‑PEMOCVD在自支撑金刚石厚膜上低温沉积InN薄膜的制备方法,其特征在于包括以下步骤:1)将自支撑金刚石厚膜基片依次用丙酮、乙醇、去离子水超声波清洗后,用氮气吹干送入反应室;2)采用ECR‑PEMOCVD(电子回旋共振‑等离子体增强金属有机物化学气相沉积,可采用中国专利号为01101424.5,名称为《电子回旋共振微波等离子体增强金属有机化学汽相沉积外延系统与技术》中公开的设备)系统,将反应室抽真空,基片加热至20~600℃,再向反应室内通入氢气携带的三甲基铟、氮气,三甲基铟与氮气流量比为(1~2):(100~200),控制气体总压强为0.8~2.0Pa,电子回旋共振反应30min~3h, 得到在自支撑金刚石厚膜基片的InN光电薄膜。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于沈阳工程学院,未经沈阳工程学院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310298983.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top