[发明专利]放射线检测装置和该放射线检测装置的控制方法在审

专利信息
申请号: 201310303651.3 申请日: 2013-07-18
公开(公告)号: CN103565450A 公开(公告)日: 2014-02-12
发明(设计)人: 小田泰史 申请(专利权)人: 富士胶片株式会社
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 李宝泉;周亚荣
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及一种放射线检测装置和该放射线检测装置的控制方法,该放射线检测装置包括放射线检测单元、轮廓信息获取单元、控制条件决定单元和控制器。放射线检测单元,该放射线检测单元将从放射线照射装置照射的放射线变换成电荷并且蓄积所述电荷。轮廓信息获取单元,该轮廓信息获取单元获取表示从所述放射线照射装置照射的所述放射线的放射线量的每单位时间的改变的轮廓信息。控制条件决定单元,该控制条件决定单元基于由所述轮廓信息获取单元获取的轮廓信息来决定所述放射线检测单元的控制条件。控制器,该控制器根据由所述控制条件决定单元决定的控制条件来控制所述放射线检测单元。
搜索关键词: 放射线 检测 装置 控制 方法
【主权项】:
一种放射线检测装置,包括:放射线检测单元,所述放射线检测单元将从放射线照射装置照射的放射线变换成电荷并且蓄积所述电荷;轮廓信息获取单元,所述轮廓信息获取单元获取轮廓信息,所述轮廓信息表示从所述放射线照射装置照射的所述放射线的放射线量的每单位时间的改变;控制条件决定单元,所述控制条件决定单元基于由所述轮廓信息获取单元获取的轮廓信息来决定所述放射线检测单元的控制条件;以及控制器,所述控制器根据由所述控制条件决定单元决定的控制条件来控制所述放射线检测单元。
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