[发明专利]硅钢织构测量方法有效
| 申请号： | 201310305740.1 | 申请日： | 2013-07-19 |
| 公开（公告）号： | CN103389316A | 公开（公告）日： | 2013-11-13 |
| 发明（设计）人： | 王志奋;陈士华;吴立新;韩荣东;张萍;关云;邓照军;周顺兵;张彦文;许竹桃 | 申请（专利权）人： | 武汉钢铁（集团）公司 |
| 主分类号： | G01N23/203 | 分类号： | G01N23/203 |
| 代理公司： | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人： | 胡镇西;孙林 |
| 地址： | 430080 湖北省武汉市武昌*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种硅钢织构测量方法，步骤如下：制备EBSD分析试样；用EBSD设备测量试样纵截面至少3个不同厚度位置的半板厚区域的取向分布图；将测量区域沿钢板表面至板厚中心分成至少10个等面积区域，经分析得到不同位置区域的ODF图；计算各个{hkl}晶面的密度分数f(hkl)；对不同区域同厚度位置的{hkl}晶面的密度分数f(hkl)取平均值；得到织构沿板厚方向分布的数据图。本发明通过测量ODF图，并定量计算各{hkl}晶面的密度分数f(hkl)，弥补了XRD定量分析的困难。同时，通过测量多个区域的数据，消除EBSD测量区域过小而造成误差的影响，使数据更加精确。 | ||
| 搜索关键词： | 硅钢 测量方法 | ||
【主权项】：
一种硅钢织构测量方法，其特征在于，该方法的步骤如下：A）取硅钢板试样制备成EBSD分析试样；B）用扫描电镜配备的EBSD设备测量试样纵截面的取向分布图，厚度范围从钢板表面至板厚中心，测量至少3个不同厚度位置的半板厚区域的取向分布图；C）测量完成后用分析软件，将测量区域沿钢板表面至板厚中心分成至少10个等面积区域，经分析依次得到从表面到板厚中心的不同位置区域的ODF图；D）通过得到不同位置区域的ODF图，经过分析软件计算各个{hkl}织构强度，通过下面公式计算{hkl}晶面的密度分数f(hkl)，即f(hkl)=某一{hkl}晶面的强度/所有{hkl}晶面的强度之和；E）对其他厚度位置的半板厚区域的取向分布图分析重复步骤C）和D），对不同区域同厚度位置的{hkl}晶面的密度分数f(hkl)取平均值；F）根据钢板表面至板厚中心不同区域的{hkl}晶面的密度分数f(hkl)平均值，运用绘图软件，得到织构沿板厚方向分布的数据图。
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