[发明专利]多层次多特征约束下的光学和SAR影像自动配准方法有效
申请号: | 201310307335.3 | 申请日: | 2013-07-19 |
公开(公告)号: | CN103345757A | 公开(公告)日: | 2013-10-09 |
发明(设计)人: | 眭海刚;徐川;刘俊怡;华风 | 申请(专利权)人: | 武汉大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00 |
代理公司: | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人: | 严彦 |
地址: | 430072 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: |
一种多层次多特征约束下的光学和SAR影像自动配准方法,包括对光学影像和SAR影像预处理,然后进行多尺度水平集分割,得到面分割结果;如果有存在相似的面目标,则计算疑似同名区域 |
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搜索关键词: | 多层次 特征 约束 光学 sar 影像 自动 方法 | ||
【主权项】:
一种多层次多特征约束下的光学和SAR影像自动配准方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1,对初始的光学影像和SAR影像分别预处理;步骤2,对步骤1所得预处理后的光学影像和SAR影像,分别进行多尺度水平集分割,得到面分割结果;步骤3,利用形状相似曲线相似性测度算法对步骤2获得的光学与SAR影像面分割结果进行判断,如果有存在相似的面目标,则转到步骤4,否则,执行步骤5;步骤4,步骤3所得所有相似的面目标构成的集合形成疑似同名区域Ω0,得到粗配准结果,对疑似同名区域Ω0中的面分割对象计算得到疑似匹配面目标质心点集,转步骤7;步骤5,利用小波变换对初始的光学影像和SAR影像进行多尺度分析,在最粗尺度影像上进行低层直线特征提取及低层点集匹配,得到低层次上的变换参数;步骤6,对步骤1所得预处理后的光学和SAR影像,进行高层直线特征提取,同时利用低层次上的变换参数,定义控制点匹配度函数,进行高层点集初匹配,得到初匹配后的候选控制点对;步骤7,基于步骤4所得疑似匹配面目标质心点集或步骤6所得初匹配后的候选控制点对,利用无向图从结构上精确判断出匹配的点对,同时剔除误匹配对,对匹配点对采用多项式变换模型求解变换参数,得到最终配准结果。
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