[发明专利]微波暗室天线远场快速测量方法

摘要

本发明公开了一种微波暗室天线远场快速测量方法，包括以下步骤：信号稀疏表示、非线性观测、重构；选择适合天线远场测试的重建算法与测量矩阵；利用一个伪随机调制解调器和一个低速采样器，形成一套可以实现由模拟信息低速采样并保证采样信号不丢失的转换器；稀疏采样过程；重构逆过程。本发明的微波暗室天线远场快速测量方法，具有仅仅随机采样原始信息30%的数据就可以完美恢复整个天线的远场方向图、能解决复杂电磁环境中超大数据量的采集与传输问题等优点。

主权项

1.微波暗室天线远场快速测量方法，其特征是，包括以下步骤：步骤1：信号稀疏表示、非线性观测、重构；任意一个一维离散信号x∈R^N可以表示为其中向量为信号x在正交基下的稀疏系数，并且Θ的表达式为Θ=Ψ^Tx，称Φ为观测矩阵，定义A^CS＝ΦΨ并称A^CS为恢复矩阵，则Y=Φ_x=ΦΨΘ可以写成Y=A^CSΘ，信号重构问题可以通过求解最小l₀范数的问题来解决，即min‖Θ‖₀，其中Y=A^CSΘ；步骤2：选择适合天线远场测试的重建算法与测量矩阵；步骤3：利用一个伪随机调制解调器和一个低速采样器，形成一套可以实现由模拟信息低速采样并保证采样信号不丢失的转换器；步骤4：稀疏采样过程；待采集天线远场连续信号通过调制加载到一串伪随机的连续的方波信号上，经过混频后通过一个低通滤波器，得到一个过滤了高频的信号，过滤了高频的信号进入模数转换系统，用低于2f的频率采样；步骤5：重构逆过程；得到低速采样结果后的天线远场测量值构成系统中的观测矩阵。