[发明专利]内建快速自动测试电路的发光二极管装置有效

专利信息
申请号: 201310317183.5 申请日: 2013-07-25
公开(公告)号: CN104345257B 公开(公告)日: 2017-04-05
发明(设计)人: 张誉钟 申请(专利权)人: 凌通科技股份有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司11314 代理人: 程伟,王刚
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明涉及一种内建快速自动测试电路的发光二极管装置,其包括一数据移位及闩锁单元用以接收一序列数据信号;一控制单元用以接收该序列数据信号,依据该序列数据信号检测是否有正常数据传输,且当无数据传输时,将一多工控制信号致能;至少一多工单元连接至该控制单元与该数据移位及闩锁单元,依据该控制单元输出的该多工控制信号,以选择该数据移位及闩锁单元或该控制单元为该至少一多工单元的输出;以及一发光二极管驱动单元连接至该至少一发光二极管单元及该至少一多工单元,依据该至少一多工单元的输出信号,以驱动该至少一发光二极管单元。
搜索关键词: 快速 自动 测试 电路 发光二极管 装置
【主权项】:
一种内建快速自动测试电路的发光二极管装置,其包含:至少一发光二极管单元;一数据移位及闩锁单元,其用以接收一序列数据信号;一控制单元,其用以接收该序列数据信号,依据该序列数据信号检测是否有正常数据传输,且当无正常数据传输时,将一多工控制信号致能;至少一多工单元,其连接至该控制单元与该数据移位及闩锁单元,依据该控制单元输出的该多工控制信号,以选择该数据移位及闩锁单元或该控制单元为该至少一多工单元的输出;以及一发光二极管驱动单元,其连接至该至少一发光二极管单元及该至少一多工单元,依据该至少一多工单元的输出信号,以驱动该至少一发光二极管单元。
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