[发明专利]一种薄膜衍射仪无效
申请号: | 201310318108.0 | 申请日: | 2013-07-26 |
公开(公告)号: | CN103411986A | 公开(公告)日: | 2013-11-27 |
发明(设计)人: | 李玉德;王丽丽;刘世岗;郭非 | 申请(专利权)人: | 北京师范大学 |
主分类号: | G01N23/20 | 分类号: | G01N23/20 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100875 北京市海淀区新街*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种薄膜衍射仪,用于对薄膜材料进行分析测试。所述薄膜衍射仪包括:用于提供线光源的X射线管,用于将X射线管发出的X射线接收并出射的薄膜附件,和用于接收经过被测薄膜材料衍射后的X射线并进行测试的探测器;其中,所述薄膜附件由多根圆柱形的毛细管重叠成一排而成,并且在薄膜附件的横截面中,所有毛细管的圆心处于一条直线上。本发明增强了照射到薄膜材料上的X射线的光强强度,有利于探测器对薄膜材料分析和测试。 | ||
搜索关键词: | 一种 薄膜 衍射 | ||
【主权项】:
一种薄膜衍射仪,其特征在于,包括:用于提供线光源的X射线管,用于将X射线管发出的X射线接收并出射的薄膜附件,和用于接收经过被测薄膜材料衍射后的X射线并进行测试的探测器;其中,所述薄膜附件由圆柱形的毛细管重叠成一排而成,并且在薄膜附件的横截面中,所有毛细管的圆心处于一条直线上。
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