[发明专利]一种光学检测系统及装置有效
| 申请号： | 201310323229.4 | 申请日： | 2013-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN103383247A | 公开（公告）日： | 2013-11-06 |
| 发明（设计）人： | 施玉书 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 北京东正专利代理事务所(普通合伙) 11312 | 代理人： | 刘瑜冬 |
| 地址： | 100013 北京市朝*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光学检测系统及装置，所述系统包括由上至下依次排列的激光器、非偏振分光镜、偏振分光镜、透反镜及测量透镜；非偏振分光镜位置水平对应光电接收器A，透反镜与测量透镜之间固定有λ/4波片，偏振分光镜位置水平对应光电接收器B。本发明设计的光学检测系统及装置解决了现有用于表面形貌测量的光学检测装置及非接触式显微测头，抗干扰能力不强、分辨力有限等问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 检测 系统 装置 | ||
【主权项】：
一种光学检测系统，其特征在于，所述系统包括由上至下依次排列的激光器（1）、非偏振分光镜（2）、偏振分光镜（3）及透反镜（4），非偏振分光镜一侧固定与其水平对应的光电接收器A（8）。
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