[发明专利]磁性随机存储器及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201310323978.7 申请日: 2013-07-29
公开(公告)号: CN104347797B 公开(公告)日: 2018-12-25
发明(设计)人: 曾贤成 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: H01L43/12 分类号: H01L43/12;H01L43/08;H01L43/02
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 屈蘅;李时云
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种磁性随机存储器及其制造方法,其中,所述磁性随机存储器的制造方法包括:提供一半导体衬底,所述半导体衬底具有接触孔;对所述接触孔执行金属填充;在金属填充后的半导体衬底的表面形成导电层;刻蚀所述导电层形成导线;在形成导线后的半导体衬底的表面形成MTJ层;刻蚀所述MTJ层形成MTJ存储单元。本发明磁性随机存储器的制造方法中,在金属填充后的半导体衬底的表面增加了一层非常平整的导电层,MTJ层沉积在所述导电层的表面,使得刻蚀形成的MTJ存储单元不会出现Mx波纹。
搜索关键词: 磁性 随机 存储器 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种磁性随机存储器的制造方法,其特征在于,包括:提供一半导体衬底,所述半导体衬底具有接触孔;对所述接触孔执行金属填充;在金属填充后的半导体衬底的表面形成导电层;刻蚀所述导电层形成导线;在形成导线后的半导体衬底的表面形成BEC层,在所述BEC层上形成MTJ层,其中,所述BEC层的平整度在10埃以下;刻蚀所述MTJ层形成MTJ存储单元;其中,所述导线的宽度大于所述接触孔的宽度,能够完全覆盖所述接触孔,所述MTJ存储单元位于所述导线之上,与所述接触孔错开。
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