[发明专利]一种存储器坏点定位方法及装置无效
| 申请号： | 201310324094.3 | 申请日： | 2013-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN103412804A | 公开（公告）日： | 2013-11-27 |
| 发明（设计）人： | 王渝;任春林 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 518129 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明实施例公开了一种存储器坏点定位方法及装置，涉及通信技术领域，能够提高存储器坏点的定位效率，并详细记录存储器坏点的定位信息。该方法包括：定位装置在定位模式下对满足预设条件的待测试存储器进行存储器内建自测MBIST测试；当MBIST测试发生错误时，停止测试，记录发生错误的当前坏点在存储器中的定位信息；从当前坏点开始，继续执行MBIST测试，定位存储器中的下一个坏点，直到将待测试存储器全部测试完。本发明用于存储器坏点的定位。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储器 定位 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种存储器坏点定位方法，其特征在于，所述方法包括：定位装置在定位模式下对满足预设条件的待测试存储器进行存储器内建自测MBIST测试，当所述MBIST测试发生错误时，停止测试；所述定位装置记录发生错误的当前坏点在存储器中的定位信息；所述定位装置从所述当前坏点开始，继续执行所述MBIST测试，定位存储器中的下一个坏点，直到将所述待测试存储器全部测试完。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华为技术有限公司，未经华为技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310324094.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
