[发明专利]包含铜柱的细间距叠层封装结构和封装方法无效
申请号: | 201310324237.0 | 申请日: | 2013-07-30 |
公开(公告)号: | CN103400823A | 公开(公告)日: | 2013-11-20 |
发明(设计)人: | 陆建刚;陆原;黄卫东 | 申请(专利权)人: | 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 |
主分类号: | H01L23/538 | 分类号: | H01L23/538;H01L21/768 |
代理公司: | 无锡市大为专利商标事务所 32104 | 代理人: | 殷红梅 |
地址: | 214000 江苏省无锡市新区太湖国*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供一种包含铜柱的细间距叠层封装结构,包括下封装体和上封装体。下封装体包括下基板,第一芯片安装在下基板上表面的芯片封装区并与下基板电连接;在下基板上表面的焊接区制作有铜柱,在铜柱上植有第一焊球;第一焊球和下基板的上表面被封装材料预封装,第一焊球的顶部露出下基板上表面的封装材料;上封装体包括上基板,第二芯片安装在上基板的上表面并与上基板电连接;所述上基板下表面的焊接区植有第二焊球。上基板和下基板通过第二焊球与第一焊球的对接形成互连。本发明采用了铜柱可减小焊球的球径,从而达到细间距封装的目的。本发明采用的焊线方式制作铜柱,省略了电镀工艺的复杂工艺,具有制作简单、成本低等优点。 | ||
搜索关键词: | 包含 间距 封装 结构 方法 | ||
【主权项】:
一种包含铜柱的细间距叠层封装结构,包括下封装体和上封装体,其特征在于:所述下封装体包括下基板(111),第一芯片(114)安装在下基板(111)上表面的芯片封装区并与下基板(111)电连接;在下基板(111)上表面的焊接区制作有铜柱(112),在铜柱(112)上植有第一焊球(113);第一焊球(113)和下基板(111)的上表面被封装材料预封装,所述第一焊球(113)的顶部露出下基板(111)上表面的封装材料;所述上封装体包括上基板(121),第二芯片(122)安装在上基板(121)的上表面并与上基板(121)电连接,第二芯片(122)和上基板(121)的上表面被封装材料封装;所述上基板(121)下表面的焊接区植有第二焊球(126);所述第二焊球(126)在上基板(121)下表面的位置、间距和所述第一焊球(113)在下基板(111)上表面的位置、间距分别匹配;上基板(121)和下基板(111)通过第二焊球(126)与第一焊球(113)的对接形成互连。
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