[发明专利]银-金-钯合金凸点制作线有效

专利信息
申请号: 201310325540.2 申请日: 2013-07-30
公开(公告)号: CN103409654A 公开(公告)日: 2013-11-27
发明(设计)人: 千叶淳;安德优希;手岛聪;安原和彦;陈炜;前田菜那子 申请(专利权)人: 田中电子工业株式会社
主分类号: C22C5/06 分类号: C22C5/06;H01L21/60
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 牛海军
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种用于半导体器件的银-金-钯凸点制作线,所述银-金-钯凸点制作线能够通过缩短熔融球的尾长度而稳定尾长度上的波动。在垂直拉伸-切割的银-金-钯合金凸点制作线中,银-金-钯合金包含1至9质量%的金(Au)和0.5至5质量%的钯(Pd),余量是具有99.995质量%以上的纯度的银(Ag)(不包括所含有的上述元素),并且在熔融球形成之前所述凸点制作线的维氏硬度是80至100Hv。
搜索关键词: 合金 制作
【主权项】:
一种垂直拉伸‑切割的银‑金‑钯合金凸点制作线,其特征在于:银‑金‑钯合金包含1至9质量%的金(Au)和0.5至5质量%的钯(Pd),余量是具有99.995质量%以上的纯度的银(Ag),并且在熔融球形成之前的所述凸点制作线的维氏硬度是80至100Hv。
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