[发明专利]基于调制掺杂的GaN肖特基二极管有效

专利信息
申请号: 201310328121.4 申请日: 2013-07-31
公开(公告)号: CN103400866A 公开(公告)日: 2013-11-20
发明(设计)人: 梁士雄;冯志红;房玉龙;邢东;王俊龙;张立森;杨大宝 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十三研究所
主分类号: H01L29/872 分类号: H01L29/872;H01L29/06;H01L29/45;H01L29/47
代理公司: 石家庄国为知识产权事务所 13120 代理人: 陆林生
地址: 050051 *** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明公开了一种基于调制掺杂的GaN肖特基二极管,属于半导体器件领域。本发明包括用于支撑整个GaN肖特基二极管的半绝缘的衬底层、在衬底层上生长的高掺杂的N+型GaN层,以及在N+型GaN层上采用调制掺杂生长的N-型GaN层;N-型GaN层的掺杂浓度从N+型GaN层的界面处开始非均匀分布;在N+型GaN层上生长欧姆接触电极;在N-型GaN层上生长有肖特基接触电极。本发明利用调制掺杂方式在N+型GaN层上生长N-型GaN层,提高了GaN材料的迁移率,改善了材料中电子浓度分布,减小了二极管的肖特基结电容,提高了其工作频率,进而提高了毫米波和太赫兹范围内倍频电路的工作频率和输出功率;通过控制调制掺杂可以有效控制肖特基二极管的变容比,提高器件的Q值。
搜索关键词: 基于 调制 掺杂 gan 肖特基 二极管
【主权项】:
一种基于调制掺杂的GaN肖特基二极管,其特征在于包括用于支撑整个GaN肖特基二极管的半绝缘的衬底层(101)、在所述衬底层(101)上生长的高掺杂的N+型GaN层(102),以及在所述N+型GaN层(102)上采用调制掺杂生长的N‑型GaN层(103),N‑型GaN层(103)的掺杂浓度从N+型GaN层(102)的界面处开始为非均匀分布;在所述的N+型GaN层(102)上生长欧姆接触电极(104);在所述的N‑型GaN层(103)上生长有肖特基接触电极(105)。
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