[发明专利]用于反向的X射线-相位对比成像的装置和方法

摘要

本发明涉及一种用于反向的X射线-相位对比成像的装置和相关的方法。该装置包括对光子进行计数的X射线探测器（5）；多射束X射线管（4），这样准直其焦点（8），使得可以分别产生狭长的X射线束（7），其对准该装置的光学轴（6）以及对准X射线探测器；在X射线管和X射线探测器之间布置的源光栅（G0），其尺寸为可以透射多射束X射线管的所有X射线束；在源光栅和X射线探测器之间布置的衍射光栅（G1），其尺寸为可以透射穿过源光栅的所有X射线束；和在衍射光栅和X射线探测器之间布置的吸收光栅（G2），其尺寸为可以透射穿过衍射光栅的所有X射线束。本发明的优势为生产麻烦的吸收光栅具有三种光栅中最小光栅面积且在成像时不必移动。

主权项

一种用于反向的X射线‑相位对比成像的装置，其特征在于：‑对光子进行计数的X射线探测器（5），‑多射束X射线管（4），这样准直其焦点（8），使得可以分别产生狭长的X射线束（7），其在方向上对准所述装置的光学轴（6）以及对准X射线探测器（5），‑其中所述X射线探测器（5）的有效面积至少和狭长的X射线束（7）的横截面面积一样大，‑在X射线管（4）和X射线探测器（5）之间布置的源光栅（G0），这样设置其尺寸大小，使得其可以由多射束X射线管（4）的所有狭长的X射线束（7）透射，‑在源光栅（G0）和X射线探测器（5）之间布置的衍射光栅（G1），这样设置其尺寸大小，使得其可以由穿过源光栅（G0）的所有狭长的X射线束（7）透射，和‑在衍射光栅（G1）和X射线探测器（5）之间布置的吸收光栅（G2），这样设置其尺寸大小，使得其可以由穿过衍射光栅（G1）的所有狭长的X射线束（7）透射。