[发明专利]测速光幕靶光幕参数的检测装置及方法有效

专利信息
申请号: 201310330785.4 申请日: 2013-08-01
公开(公告)号: CN103363926A 公开(公告)日: 2013-10-23
发明(设计)人: 武志超;倪晋平;仵阳;张秀丽;田会 申请(专利权)人: 西安工业大学
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26;G01B11/14
代理公司: 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 代理人: 黄秦芳
地址: 710032*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种测速光幕靶光幕参数的检测装置及方法。目前测量两光幕面之间间距方法测量精度低,无法保证两光幕面严格平行,无法实现对弹丸飞行速度高精度测量;使用中的光幕靶、激光靶需要定期检测幕面的平面度和两幕面的平行度及间距。一种测速光幕靶光幕参数的检测装置及方法,其特征在于:包括基准平面组件与测距基准平面组件,测距基准平面组件包括第二激光平面投射器、第二平面法线激光投射器和高精度激光测距仪,第二激光平面投射器、第二平面法线激光投射器和高精度激光测距仪设置于第二精密平台上;基准平面组件与测距基准平面组件等高且相对地平行设置。本发明克服现有测量两靶之间间距存在较大误差、光幕面平行度无法保证等不足。
搜索关键词: 测速 光幕靶光幕 参数 检测 装置 方法
【主权项】:
一种测速光幕靶光幕参数的检测装置,其特征在于:包括基准平面组件与测距基准平面组件,所述基准平面组件包括第一激光平面投射器(1)和第一平面法线激光投射器(2),第一激光平面投射器(1)和第一平面法线激光投射器(2)设置于第一精密平台(4)上;所述测距基准平面组件包括第二激光平面投射器(11)、第二平面法线激光投射器(12)和高精度激光测距仪(13),第二激光平面投射器(11)、第二平面法线激光投射器(12)和高精度激光测距仪(13)设置于第二精密平台(14)上;所述基准平面组件与测距基准平面组件等高且相对地平行设置;所述第一激光平面投射器(1)和第二激光平面投射器(11)均为两个扇形一字线型激光器,分别对称安装在第一平面法线激光投射器(2) 和第二平面法线激光投射器(12)下部的两侧,所述第一平面法线激光投射器(2) 和第二平面法线激光投射器(12)均为一个点状光束激光器,激光光束出口处标有十字刻划,其投射的激光光束与激光平面投射器(1)投射的光平面垂直;所述测距基准平面组件中的高精度激光测距仪(13)设置于第二激光平面投射器(11)和第二平面法线激光投射器(12)的下部,且位于第二激光平面投射器(11)的正下方;测距基准面与激光平面投射器投射的平面共面。
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