[发明专利]一种基于天体辐射信号相干性的成像方法有效
| 申请号： | 201310331560.0 | 申请日： | 2013-08-01 |
| 公开（公告）号： | CN103412314A | 公开（公告）日： | 2013-11-27 |
| 发明（设计）人： | 周建锋;高扬;霍卓玺;张茂林;冯真真;杨宏宇 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01S17/89 | 分类号： | G01S17/89 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 宋焰琴 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于天体辐射信号相干性的成像方法，该方法包括以下步骤：在地球的观测位置处接收接收信号；根据接收信号以及天体发射源发射的发射信号的自相关性建立成像模型；针对不同的天体发射源发射的发射信号和天体发射源与反射介质之间不同的相对运动，基于成像模型，得到不同的天体发射源发射的发射信号和天体发射源与反射介质之间不同的相对运动情况下，反射体的位置信息和速度信息。本发明方法对于天体发射源周边存在的反射介质可以提高位置分辨率，进行对反射介质的观测，从而解决了由于星际间距离过大，用现有技术中的方法不能观测到天体发射源周边的反射介质的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 天体 辐射 信号 相干性 成像 方法 | ||
【主权项】：
一种基于天体辐射信号相干性的成像方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：步骤S1，在地球的观测位置处接收接收信号；步骤S2，根据所述接收信号以及天体发射源发射的发射信号的自相关性建立成像模型；步骤S3，针对不同的天体发射源发射的发射信号和天体发射源与反射介质之间不同的相对运动，基于所述成像模型，得到不同的天体发射源发射的发射信号和天体发射源与反射介质之间不同的相对运动情况下，反射体的位置信息和速度信息。
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