[发明专利]沟槽式金属氧化物半导体场效应管有效

专利信息
申请号: 201310333026.3 申请日: 2013-07-31
公开(公告)号: CN103730500A 公开(公告)日: 2014-04-16
发明(设计)人: 谢福渊 申请(专利权)人: 力士科技股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汤保平
地址: 中国台湾台北*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开了一种沟槽式金属氧化物半导体场效应管,其在有源区中每两个相邻的栅沟槽之间具有多个沟槽式源-体接触结构,可以在降低栅电荷的同时不影响器件的雪崩特性。
搜索关键词: 沟槽 金属 氧化物 半导体 场效应
【主权项】:
一种沟槽式金属氧化物半导体场效应管,包括:第一导电类型的衬底;第一导电类型的外延层,位于所述的衬底的上表面,其中所述的外延层的多数载流子的浓度小于所述的衬底;多个第一栅沟槽,位于有源区,形成于所述的外延层中;第二导电类型的体区,位于所述的外延层上方;第一导电类型的源区,位于有源区,且位于所述的体区的上方;和多个沟槽式源‑体接触结构,位于有源区中每两个相邻的第一栅沟槽之间,每个所述的沟槽式源‑体接触结构都填充以金属插塞且延伸入所述的体区,将位于有源区的所述的源区和体区短接至源极金属,其中所述的源区位于沟道区和与其相邻的沟槽式源‑体接触结构之间,而不存在于每两个相邻的沟槽式源‑体接触区之间。
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