[发明专利]磁隧道结及其形成方法、磁性随机存储器及其形成方法在审

专利信息
申请号: 201310338251.6 申请日: 2013-08-05
公开(公告)号: CN104347795A 公开(公告)日: 2015-02-11
发明(设计)人: 王冬江;张海洋 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: H01L43/08 分类号: H01L43/08;H01L43/12
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 骆苏华
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种磁隧道结及其形成方法、磁性随机存储器及其形成方法,其中磁性随机存储器包括:基底;晶体管,所述晶体管包括源极、漏极和栅极;覆盖晶体管和基底的第一层间介质层;字线;覆盖第一层间介质层和字线的第二层间介质层;导电层;位于第一层间介质层和第二层间介质层中的第一插塞,第一插塞电连接所述导电层和漏极;位于导电层上的磁隧道结,磁隧道结位于字线上方,磁隧道结包括自由层、被钉扎层、位于自由层和被钉扎层之间的隧道膜;位线,位线和磁隧道结通过第二插塞电连接;磁隧道结的侧壁光滑连接。本发明提供的磁性随机存储器的写入和读取速率快、不同存储状态下MTJ的电阻值的差值大,且MTJ不同位置处的电阻值相同。
搜索关键词: 隧道 及其 形成 方法 磁性 随机 存储器
【主权项】:
一种磁隧道结的形成方法,其特征在于,包括:提供磁隧道结层,所述磁隧道结层包括自由层、被钉扎层、位于自由层和被钉扎层之间的隧道膜;在所述磁隧道结层上形成掩膜层;刻蚀所述掩膜层,形成多个第一掩膜单元,所述第一掩膜单元呈长方体;对所述第一掩膜单元的侧壁进行各向同性刻蚀,形成第二掩膜单元,所述第二掩膜单元的侧壁光滑连接,所述第二掩膜单元定义磁隧道结的位置;以所述第二掩膜单元为掩膜,刻蚀所述磁隧道结层,形成磁隧道结。
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