[发明专利]静电测试仪检测系统及方法无效
| 申请号： | 201310339135.6 | 申请日： | 2013-08-06 |
| 公开（公告）号： | CN104345291A | 公开（公告）日： | 2015-02-11 |
| 发明（设计）人： | 张贵真;杨全龙;曾泓仁 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种静电测试仪检测方法，用于检测至少一个静电测试仪是否正常，其中，该方法包括步骤：将若干光耦合电路分别与若干待检测的静电测试仪连接，并将一单片机与该若干光耦合电路连接；通过光耦合电路侦测对应的静电测试仪的电压测试点以及连试点的电压而分别产生电压侦测信号以及连接侦测信号；以及通过单片机接收每一光耦合电路产生的电压侦测信号以及连接侦测信号，并根据该接收的电压侦测信号以及连接侦测信号确定与输出该电压侦测信号以及连接侦测信号的耦合电路所连接的静电测试仪是否工作正常而得到一检测结果。本发明还提供一种静电测试仪检测系统。本发明可自动对静电测试仪进行检测，减少了人力成本。 | ||
| 搜索关键词： | 静电 测试仪 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种静电测试仪检测系统，用于对至少一个静电测试仪进行检测，每一静电测试仪具有一连接测试点以及一电压测试点，其特征在于，该静电测试仪检测系统包括：至少一光耦合电路，用于分别与一静电测试仪连接，用于将对应连接测试点的电压以及电压测试点的电压分别转换成连接测试信号以及电压测试信号；一单片机，与该至少一光耦合电路均连接，用于接收光耦合电路产生的连接测试信号以及电压测试信号，并根据该连接测试信号以及电压测试信号确定每一光耦合电路所连接的静电测试仪的是否工作正常。
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