[发明专利]一种应用于冠层反射光谱测量的测距系统及其方法有效

专利信息
申请号: 201310340117.X 申请日: 2013-08-06
公开(公告)号: CN103398695A 公开(公告)日: 2013-11-20
发明(设计)人: 丁永前;曹卫星;朱艳;谭星祥;毕伟平;张弛;徐志刚 申请(专利权)人: 南京农业大学
主分类号: G01C3/00 分类号: G01C3/00
代理公司: 南京天华专利代理有限责任公司 32218 代理人: 夏平
地址: 21009*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种应用于冠层反射光谱测量的测距系统及其方法,包括两个测距传感器、嵌入式处理器和安装支架,嵌入式处理器置于安装支架的中部,两个测距传感器分别设置于安装支架的两端,两测距传感器均用于采集作物冠层的图像信息,它与嵌入式处理器的信号输入端相连,嵌入式处理器输出测距系统距离冠层的高度信息至与之连接的冠层反射光谱测量装置,该冠层反射光谱测量装置置于安装支架中部,所述的测距系统传感器面向冠层的检测端和冠层反射光谱测量装置面向冠层的检测端处于同一平面。本发明采用双目视觉技术和嵌入式处理器构建了冠层测距系统,利用嵌入式系统实现对双目视觉数据的处理,利用双目视觉的深度信息实现对冠层距离的测量。
搜索关键词: 一种 应用于 反射 光谱 测量 测距 系统 及其 方法
【主权项】:
一种应用于冠层反射光谱测量的测距系统,其特征是它包括两个测距传感器(1、2)、嵌入式处理器(3)和安装支架(4),所述的嵌入式处理器(3)置于安装支架(4)的中部,两个测距传感器(1、2)分别设置于安装支架(4)的两端,两测距传感器(1、2)均用于采集作物冠层的图像信息,两测距传感器(1、2)的信号输出端与嵌入式处理器(3)的信号输入端相连,所述的嵌入式处理器(3)输出测距系统距离冠层的高度信息至与之连接的冠层反射光谱测量装置(5),该冠层反射光谱测量装置(5)置于安装支架(4)中部,所述的测距系统传感器(1、2)面向冠层的检测端和冠层反射光谱测量装置(5)面向冠层的检测端处于同一平面。
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