[发明专利]检测偏硅酸钠中硼杂质的预处理方法有效
| 申请号： | 201310343038.4 | 申请日： | 2013-08-08 |
| 公开（公告）号： | CN103411819A | 公开（公告）日： | 2013-11-27 |
| 发明（设计）人： | 谭毅;刘瑶;刘鑫业 | 申请（专利权）人： | 青岛隆盛晶硅科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/40 | 分类号： | G01N1/40;G01N1/34 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 266234 山东省*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种偏硅酸钠杂质检测预处理方法，具体涉及一种检测偏硅酸钠中硼杂质的预处理方法，将偏硅酸钠样品加NaOH溶液溶解，并加水调节pH值，然后加入甘露醇，使其与偏硅酸钠中的硼杂质充分络合，再通过乙醚萃取，将萃取后的乙醚加热至完全挥发，残留液加入硝酸并加水定容，最后检测即可。本发明的优点在于：（1）硼元素富集作用明显，待检溶液中几乎没有钠离子和硅酸根离子的存在，大大削弱了基体效应的影响，硼元素的回收率可从80～82%提升至95%以上，将硼元素的方法检出限由1ppm降至0.2ppm；（2）避免了对进样系统的污染：（3）方法简单易于操作，提高了检测准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 硅酸钠 杂质 预处理 方法 | ||
【主权项】：
一种检测偏硅酸钠中硼杂质的预处理方法，其特征在于将偏硅酸钠样品加NaOH溶液溶解，并加水调节pH值，然后加入甘露醇，使其与偏硅酸钠中的硼杂质充分络合，再通过乙醚萃取，将萃取后的乙醚加热至完全挥发，残留液加入硝酸并加水定容，最后检测即可。
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