[发明专利]电子器件制造方法、封装制造方法、电子器件和电子设备有效

专利信息
申请号: 201310343947.8 申请日: 2013-08-08
公开(公告)号: CN103594384B 公开(公告)日: 2017-04-12
发明(设计)人: 镰仓知之 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: H01L21/52 分类号: H01L21/52;H01L21/54;H01L21/50;H01L23/02
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司11127 代理人: 李辉,黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供电子器件制造方法、封装制造方法、电子器件和电子设备。本发明的封装的制造方法包括以下的工序准备设置低熔点玻璃(270)的底座基板(210)和盖(259);在减压环境下将低熔点玻璃(270)加热到流动点以上,使低熔点玻璃(270)消泡;在利用低熔点玻璃(270)使底座基板(210)以及盖(250)重合之后,在减压环境下将低熔点玻璃(270)加热到流动点以上,接合底座基板(210)以及盖(250)。
搜索关键词: 电子器件 制造 方法 封装 电子设备
【主权项】:
一种电子器件的制造方法,其特征在于,包括以下的工序:准备至少在一方设置有低熔点玻璃的底座基板以及盖体;在减压环境下将所述低熔点玻璃加热到流动点以上,对所述低熔点玻璃进行消泡;在隔着所述低熔点玻璃使所述底座基板以及所述盖体重合之后,在减压环境下将所述低熔点玻璃加热到流动点以上,接合所述底座基板以及所述盖体;以及在所述接合的工序之前,利用保持部件在所述底座基板上安装功能元件,在所述消泡的工序中,与所述低熔点玻璃的消泡同时,进行煅烧条件没有所述低熔点玻璃的消泡条件严格的所述保持部件的煅烧。
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