[发明专利]获取正电子发射断层扫描系统响应模型与图像重建的方法有效
| 申请号： | 201310345039.2 | 申请日： | 2013-08-09 |
| 公开（公告）号： | CN103393434A | 公开（公告）日： | 2013-11-20 |
| 发明（设计）人： | 魏龙;贠明凯;樊馨;刘双全;张玉包;曹学香;周小林;王璐;孙翠丽;高娟;王海鹏;李默涵;章志明;黄先超 | 申请（专利权）人： | 中国科学院高能物理研究所 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03;G06T11/00 |
| 代理公司： | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 李昕巍;赵根喜 |
| 地址： | 100049 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种获取正电子发射断层扫描的系统响应模型及图像重建的方法及装置。一种正电子发射断层扫描的图像重建方法，包括：获取γ光子入射到晶体条阵列的深度效应响应信息；根据所述深度效应响应信息符合生成背对背的γ光子入射晶体条对时决定的响应线的深度效应响应模型；根据所述深度效应响应模型生成系统响应模型；以及，根据所述的系统响应模型进行图像重建。 | ||
| 搜索关键词： | 获取 正电子 发射 断层 扫描 系统 响应 模型 图像 重建 方法 | ||
【主权项】：
一种获取正电子发射断层扫描的系统响应模型的方法，包括：获取γ光子入射到晶体条阵列的深度效应响应信息；根据所述深度效应响应信息符合生成背对背的γ光子入射晶体条对时决定的响应线的深度效应响应模型；以及，根据所述深度效应响应模型生成系统响应模型。
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