[发明专利]CMOS TDI图像传感器及其电荷转移控制方法有效

专利信息
申请号: 201310348765.X 申请日: 2013-08-12
公开(公告)号: CN103402061A 公开(公告)日: 2013-11-20
发明(设计)人: 阿德里·米尔普;李扬;马成;王欣洋 申请(专利权)人: 长春长光辰芯光电技术有限公司
主分类号: H04N5/359 分类号: H04N5/359;H04N5/374
代理公司: 长春吉大专利代理有限责任公司 22201 代理人: 王淑秋
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种CMOS TDI图像传感器及其电荷转移控制方法,该传感器的M行多晶硅栅极制作于N列半导体带和隔离带上,多晶硅栅极与半导体带由绝缘介质隔离;多晶硅栅极与时序产生电路连接,半导体带与读出电路连接。电荷转移控制方法如下:通过控制半导体带输出处连接的开关网络和多晶硅栅极信号,使每个相等时间间隔,电荷收集区域面积从nxm变为nxi或从nxi变为nxm;每两个相等时间间隔,电荷收集区域沿垂直方向移动m-i行;n和m、i分别为水平和垂直电荷收集单元合并个数;经开关网络合并后的电荷信号经读出电路读出。本发明可提高CMOS TDI图像传感器的信噪比、可调节有效像素尺寸和面积、提高图像分辨率。
搜索关键词: cmos tdi 图像传感器 及其 电荷 转移 控制 方法
【主权项】:
一种CMOS TDI图像传感器,其特征在于包括基板(11),制作于基板(11)上的N列半导体带(13),制作于基板(11)上并将各列半导体带(13)隔离的绝缘隔离带(14);M行多晶硅栅极(15),时序产生电路(12),读出电路(17);所述M行多晶硅栅极(15)制作于半导体带(13)和隔离带(14)上,且多晶硅栅极(15)与半导体带(13)之间由绝缘介质(16)隔离;每个多晶硅栅极(15)与半导体带(13)交叠的部分及两者中间的绝缘介质(16)构成一个电荷收集单元(18),每列半导体带(13)整体构成一个电荷转移通道;M行多晶硅栅极(15)分别与时序产生电路(12)连接,N列半导体带(13)与读出电路(17)连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长春长光辰芯光电技术有限公司,未经长春长光辰芯光电技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310348765.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top