[发明专利]一种测量分析系统在审
申请号: | 201310349924.8 | 申请日: | 2013-08-13 |
公开(公告)号: | CN104374419A | 公开(公告)日: | 2015-02-25 |
发明(设计)人: | 葛晓春 | 申请(专利权)人: | 苏州广海信息科技有限公司 |
主分类号: | G01D21/00 | 分类号: | G01D21/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215123 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种测量分析系统,其特点是:测量分析系统数据是通过测量获得的,测量是赋值给具体事物以表示他们之间关于特殊特性的关系。测量系统处于统计控制中,这意味着测量系统中的变差只能是由于普通原因而不是由于特殊原因造成的,保证了系统的稳定性。测量系统的变差比制造过程的变差小,变差应小于公差带。测量精度应高于过程变差和公差带两者中精度较高者,一般来说,测量精度是过程变差和公差带两者中精度较高者的十分之一,且测量系统统计特性可随被测项目的改变而变化。 | ||
搜索关键词: | 一种 测量 分析 系统 | ||
【主权项】:
一种测量分析系统,其特征在于:测量分析系统数据是通过测量获得的,测量是赋值给具体事物以表示他们之间关于特殊特性的关系。
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