[发明专利]一种使用飞秒激光频率梳的波长计测量方法及装置有效
| 申请号： | 201310350557.3 | 申请日： | 2013-08-13 |
| 公开（公告）号： | CN103398786A | 公开（公告）日： | 2013-11-20 |
| 发明（设计）人： | 梁志国;张大鹏;武腾飞;张力 | 申请（专利权）人： | 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 |
| 主分类号： | G01J9/00 | 分类号： | G01J9/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100095*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种使用飞秒激光频率梳的波长计测量方法及装置，属于光物理技术领域和计量测试技术领域。本发明结构简单、成本低、易实现，使用飞秒激光频率梳产生具有众多稳频激光分量的超连续激光光谱源，其特点是梳频可以锁定到原子钟频率上，且可以微调、控制和产生所需要的变化。使用光栅分光镜或棱镜分光方式，外加滤光镜或光阑，可以从众多飞秒激光频率中选出比较纯正切频率可以微调控制的稳频激光，使用该已知频率的稳频激光分量，可以实现波长计测量准确度和测量分辨力的计量校准。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 使用 激光 频率 波长 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
一种使用飞秒激光频率梳的波长计测量方法，其特征在于：该方法由飞秒激光频率梳产生的超连续宽光谱范围的稳频飞秒激光，稳频飞秒激光经平面反射镜反射后，注入分色器件进行衍射分光或折射分光，提取出所需要的单色激光频率fn，再经过滤光镜进行滤波剔出杂散光干扰，用半透半反镜提取部分飞秒激光用于已知波长计粗测波长确定n值；用计数器A对稳频飞秒激光的偏移频率f0进行测量，用计数器B对稳频飞秒激光的重复频率fr进行测量，则单色激光频率fn为fn=n×fr+f0以单色激光频率fn为精确值，可以计量校准被校波长计的测量准确度。
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