[发明专利]一种抗PID效应的晶体硅太阳能电池及其制备方法在审
申请号: | 201310354011.5 | 申请日: | 2013-08-14 |
公开(公告)号: | CN103413840A | 公开(公告)日: | 2013-11-27 |
发明(设计)人: | 魏文文;勾宪芳;王鹏;姜利凯 | 申请(专利权)人: | 中节能太阳能科技(镇江)有限公司 |
主分类号: | H01L31/0216 | 分类号: | H01L31/0216;H01L31/18 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 缪友菊 |
地址: | 212132 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种抗PID效应的晶体硅太阳能电池,包括硅片衬底和设置在硅片衬底上的钝化膜,所述钝化膜包括依次叠层沉积在所述硅片衬底正表面的致密层SiO2、疏松层SiO2、致密层Si3N4及疏松层Si3N4。另涉及该晶体硅太阳能电池的制备方法,包括制绒-扩散-刻蚀-氧化-PECVD-丝网印刷-烧结测试步骤。采用低温生长SiO2钝化膜和经过PECVD沉积的具有氢钝化作用和很好减反射效果的Si3N4膜构成的SiO2/Si3N4双层膜能明显改善太阳电池的性能,增强太阳能电池表面的钝化效果。 | ||
搜索关键词: | 一种 pid 效应 晶体 太阳能电池 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种抗PID效应的晶体硅太阳能电池,包括硅片衬底(3)和设置在硅片衬底(3)上的钝化膜,其特征在于:所述钝化膜包括依次叠层沉积在所述硅片衬底(3)正表面的致密层SiO2(4)、疏松层SiO2(5)、致密层Si3N4(1)及疏松层Si3N4(2)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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