[发明专利]电路测试系统在审
| 申请号： | 201310360508.8 | 申请日： | 2013-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN104422872A | 公开（公告）日： | 2015-03-18 |
| 发明（设计）人： | 曹伟华;郭雯 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种电路测试系统，包括测试设备、微控制器及开关组合，所述开关组合包括连接所述测试设备的第一开关、第二开关，所述第一开关与所述第二开关均连接所述微控制器，所述第一开关用于连接测试电路，所述第二开关用于连接另一测试电路，所述微控制器用于在接收到一触发信号后开启所述第一开关从而使来自所述测试电路的测试信号传送给所述测试设备，并在一设定时间后断开所述第一开关而开启所述第二开关以使来自所述另一测试电路的测试信号传送给所述测试设备。所述电路测试系统用于方便测试所述测试电路。 | ||
| 搜索关键词： | 电路 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种电路测试系统，包括测试设备，其特征在于：所述电路测试系统还包括微控制器及开关组合，所述开关组合包括连接所述测试设备的第一开关、第二开关，所述第一开关与所述第二开关均连接所述微控制器，所述第一开关用于连接测试电路，所述第二开关用于连接另一测试电路，所述微控制器用于在接收到一触发信号后开启所述第一开关从而使来自所述测试电路的测试信号传送给所述测试设备，并在一设定时间后断开所述第一开关而开启所述第二开关以使来自所述另一测试电路的测试信号传送给所述测试设备。
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